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集成电路应用杂志2026年01期
作者:[!--writer--]  来源:[!--befrom--] 发布时间:2026-07-16 10:35:52
综述与评论
芯片测试数据价值挖掘技术:现状回顾与未来展望伍俊超;李强;柯俊吉;1-11
数字与模拟
带温度感知的RFID芯片射频模拟前端仿真方法研究李岩松;方洁虹;吴静珠;肖宛昂;12-22
基于180 nm CMOS工艺的555定时器设计与仿真验证王馨谊;张景阳;于贺;23-28
多通道RS422转以太网数据传输网关的设计与实现王庆贺;宋晨阳;蔡阳阳;29-33
基于SPI接口ADC的数字自动化验证设计佟兴;刘涛;孟军;白敏;34-38
基于带隙基准的高端理想二极管研究陈石平;郑健超;39-44
方案与应用
航空发动机环境监测芯片自动化测试系统宋晨阳;王一卓;蔡阳阳;45-51
基于双轴注意力网络的航天器遥测多维时间序列异常检测龚旭;李林峰;张凤芳;吕琳;52-60
自动化核酸提取仪系统设计官方勇;李娟;杨文龙;李杰;61-66
融合终端中的交流采样软硬解耦架构设计及工程应用张晓东;67-70
红外光布局结构与头盔视野测试性能的关系研究许吕华;章璐;周鹏;71-75
智能电网中电子互感器的误差补偿技术研究曲保平;76-79